Тестер FT-17DT-256
Краткое описание продукта:
Тестер микросхем FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем, а также микросхем смешанной обработки сигнала на частотах до 200 МГц.
Тестер представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру. Контроль параметров осуществляется путем подачи сигналов на выводы тестируемой микросхемы, измерения ответных сигналов и сравнения их с ожидаемыми значениями.
В модификации FT-17HF-768 может быть установлено до 12-ти плат канальной электроники, в модификации FT-17DT-256 –до 4-х, количество плат определяется по заказу.
Объекты измерения и контроля:
- цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
- запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
- аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле);
- RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).
Опции:
- возможность подключения к проходной камере и автоматической зондовой станции, с применением жгутовой и бескабельной технологической оснастки;
- подключение к мобильным испытательным системам термоциклирования.
Техническая документация
Описание типа средства измерений
12.12.2017 г.
Свидетельство об утверждении типа средства измерений
21.03.2017 г.
